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作者: Sharadrao A Vanalakar , Sawanta S Mali , Mahesh P Suryawanshi , Nilesh L Tarwal , Ganesh L Agawane
DOI: 10.1515/ZPCH-2014-0510
关键词: Thin film 、 Thickness dependent 、 Nanotechnology 、 Atomic force microscopy 、 Materials science 、 Cadmium sulfide
摘要:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics,2016, 引用: 8
New Journal of Chemistry,2018, 引用: 15
Zeitschrift für Physikalische Chemie,2019, 引用: 0