作者: Xuanli Chen , Yuxiang Chen , Jan Michael Schuller , Nassir Navab , Friedrich Forster
DOI: 10.1109/ISBI.2014.6868001
关键词: Electron 、 Particle 、 Computer vision 、 Tomography 、 Artificial intelligence 、 Multiclass classification 、 Computer science 、 Pattern recognition
摘要: