作者: Hellmut Eckert
DOI: 10.1016/0079-6565(92)80001-V
关键词: Characterization (materials science) 、 Solid-state nuclear magnetic resonance 、 Physical chemistry 、 Solid-state 、 Nuclear magnetic resonance spectroscopy 、 Silicon 、 Boron 、 Spin–lattice relaxation 、 Impurity 、 Nuclear magnetic resonance 、 Chemistry
摘要: