FRET detection using Total Internal Reflection Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy and supercontinuum excitation

作者： Viviane Devauges , Pierre Blandin , Sandrine Leveque-Fort , Sandrine Lecart , Frédéric Druon

DOI:

关键词: Optoelectronics 、 Fluorescence-lifetime imaging microscopy 、 Total internal reflection fluorescence microscope 、 Förster resonance energy transfer 、 Materials science 、 Microscopy 、 Analytical chemistry 、 Excitation 、 Supercontinuum