Scanning tunneling microscopy

作者： G. Binnig

DOI:

关键词: Scanning tunneling microscope 、 Electrochemical scanning tunneling microscope 、 Optoelectronics 、 Conductive atomic force microscopy 、 Scanning confocal electron microscopy 、 Scanning capacitance microscopy 、 Materials science 、 Scanning gate microscopy 、 Scanning probe microscopy 、 Scanning ion-conductance microscopy