作者: Guoyu Wang , Lynn Endicott , Ctirad Uher
DOI: 10.1002/9783527672608.CH5
关键词: Thin film 、 Carbon film 、 Molecular beam epitaxy 、 Reflection high-energy electron diffraction 、 Chemical vapor deposition 、 Materials science 、 Combustion chemical vapor deposition 、 Crystallography 、 Chemical engineering
摘要: