Ultrasonic Detection of Surface Flaws in Sintered Alpha Silicon Carbide

作者： W. P. Rogers , M. Srinivasan

DOI: 10.1002/9780470320228.CH16

关键词: Ultrasonic detection 、 Silicon carbide 、 Composite material 、 Materials science 、 Silicon nitride 、 Ultrasonic testing 、 Alpha (navigation)