V. Ziemann, H. Ihee, R. Wanzenberg, P. Anfinrud, V. Katalev, C. Bostedt, M. Kollewe, A. Aghababyan, K. Floettmann, H. J. Grabosch, R. Treusch, I. Zagorodnov, W. Decking, L. Juha, V. Miltchev, G. Tallents, D. Kostin, H. Graafsma, L. García-Tabarés, V. Schlott, V. Kocharyan, M. Wendt, C. Blome, J. Marangos, M. Chergui, S. Techert, P. Piot, B. Petrosyan, E. Springate, P. Michelato, J. S. Wark, C. Schroer, I. Vartaniants, S. Toleikis, R. Abela, K. Klose, K. Jensch, K. Zapfe, H. Weddig, A. Lindenberg, C. Magne, M. French, E. Collet, M. Yurkov, C. Gutt, S. Bratos, S. Casalbuoni, P. Nicolosi, M. Richter, H. Schlarb, M. Wulff, O. Hensler, K. Ludwig, J. Rossbach, M. Fajardo, T. Nunez, T. Weiland, B. Stephenson, I. Will, M. Larsson, P. Castro, J. Hajdu, A. Winter, K. Tiedtke, M. Kuhlmann, A. Brandt, G. Neubauer, A. Cianchi, L. Petrosyan, J. Frisch, L. Monaco, A. Plech, S. Prat, E. Prat, R. Kienberger, L. Lilje, J. Chen, B. Faatz, P. Wochner, M. Huening, F. Kaerntner, S. Schrader, O. Matzen, A. Fateev, F. Ö. Ilday, A. Cavalleri, D. Pugachov, M. Jablonka, E. Sombrowski, J. Sekutowicz, S. Duesterer, A. Wolf, A. Bolzmann, E. Jaeschke, C. Altucci, A. Eckhardt, V. Balandin, M. Seidel, N. Golubeva, K. Hacker, B. Fominykh, S. Johnson, O. Napoly, M. Hartrott, J. Wojtkiewicz, W. Singer, M. Krasilnikov, M. R. Howells, N. Baboi, D. Proch, M. Castellano, J. W. Kim, M. Schmitz, M. Nagl, P. Zambolin, R. Vuilleumier, A. Oppelt, Y. Kim, R. W. Lee, M. Luong, J. H. Han, Q. Kong, U. Hahn, F. Stulle, B. Schmidt, V. Rybnikov, A. Matheisen, D. Noelle, B. Keil, P. Schmueser, M. Dohlus, W. Sandner, R. Smith, F. Loehl, C. Bressler, N. Tesch, N. Meyners, D. Sellmann, J. P. Jensen, B. Krause, W. Graeff, R. Wichmann, B. Racky, Y. Bozhko, N. Mildner, M. Clausen, A. Zolotov, H. Kapitza, H. Brück, J. Havlicek, J. Prenting, F. R. Ullrich, H. Danared, W. Kook, J. Krzywinski, U. van Rienen, H. Quack, G. Pöplau, R. Brinkmann, H. Chapman, C. David, G. Grübel, C. Masciovecchio, T. Hott, A. Variola, E. Saldin, M. Koerfer, R. Paparella, D. Trines, D. Lipka, A. Nienhaus, Y. Filipov, S. Riemann, M. Minty, M. Tolan, L. Haenisch, F. Gel'mukhanov, L. Poletto, J. Vogel, V. Tsakanov, W. D. Moeller, E. Gadwinkel, M. Maslov, B. Dobson, J. Baehr, I. Robinson, P. Seller, K. Witte, H. Remde, P. Meulen, D. Charalambidis, W. Koehler, G. Dipirro, B. Griogoryan, F. Senf, T. Wohlenberg, M. Schloesser, H. J. May, O. Kozlov, J. J. Gareta, H. B. Pedersen, D. Kraemer, S. Celik, J. Roensch, E. Ploenjes, H. Lierl, D. Ramert, R. Schuch, L. Froehlich, E. Matyushevskiy, H. Laich, R. Wenndorff, V. Honkimäki, A. Maquet, M. Goerler, H. J. Eckoldt, T. Tschentscher, O. Krebs, R. Reininger, A. Schwarz, R. Ischebeck, T. Schilcher, L. Catani, H. Wabnitz, H. Thom, J. Schäfer, M. Altarelli, F. Schotte, T. Garvey, P. Audebert, B. Petersen, J. Schneider, M. Tischer, B. Steffen, S. Simrock, A. Shabunov, K. Wittenburg, C. Pagani, G. Kube, F. Obier, M. Sachwitz, S. Khodyachykh, V. Ayvazyan, E. Syresin, M. Ross, G. Amatuni, J. Becker, H. Redlin, R. Lange, D. Reschke, H. Sinn, A. Leuschner, F. Stephan, E. Vogel, J. Feldhaus, B. Beutner, R. Follath, T. Möller, H. Edwards, C. Gerth, R. Bandelmann, J. Pflueger, M. Staack, O. Brovko, E. Schneidmiller, D. McCormick, I. Bohnet, H. Delsim-Hashemi, O. Grimm, I. Tsakov, S. Choroba, F. Toral, I. McNulty, M. Dehler, K. Honkavaara, F. Rosmej, R. Kammering, K. Rehlich, D. Richter, T. Limberg, U. Gensch, A. Petrov, H. Weise, V. Sytchev, H. Schulte-Schrepping, S. Schreiber, A. A. Sorokin, K. Sytchev, J. P. Carneiro, D. Riley, D. Sertore, P. Zeitoun, L. Staykov,
XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report DESY. ,(2006) ,
10.3204/DESY_06-097