作者: J. H. M. Hakvoort , M. Heineke , K. Heymann , H. Kühl , R. Riethmüller
DOI: 10.1007/BF03043945
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摘要: In mehrjährigen Feldversuchen wurden Grundlagen für ein Monitoring kritischer Schubspannungen von Wattflächen mittels optischer Fernerkundung entwickelt. Die …