搜索历史记录选项已关闭,请开启搜索历史记录选项。
作者: T. Ito , S. Hijiya , T. Nozaki , H. Arakawa , M. Shinoda
DOI: 10.1149/1.2131471
关键词:
摘要:
,1988, 引用: 1
,1997, 引用: 7
,2004, 引用: 22
Surface Science,2001, 引用: 47
,1995, 引用: 4
Instabilities in Silicon Devices,1999, 引用: 4
Applied Physics Letters,1997, 引用: 26
Thin Solid Films,2005, 引用: 6
Surface Science,1985, 引用: 15
Applied Physics Letters,2014, 引用: 11