Sur les dégâts chimiques créés par des faisceaux d′électrons ou d′ions lourds dans differents plastiques detecteurs de traces

摘要: Abstract Les degâts chimiques induits dans quelques detecteurs plastiques de traces par bombardement ions lourds ou electrons ont ete examines spectroscopie infrarouge. On trouve que les differences notees entre effets des deux types d'irradiations ne sont pas significatives et on conclut la formation revelables le cas serait associee non a l'existence produits radiolyse specifiques mais leur forte densite locale. Il est impossible cependant preciser quel stade l'interaction particule incidente detecteur irradie cette correlation spatiale determinante pour traces. Heavy ionizing particles produce tracks of structural or (and) chemical defects as they move through insulating materials, in particular plastic films. These latent may be observed by optical microscopy after proper etching. the other hand, bombardment with energetic does not give rise to such etch...