作者: David Brust , L. Liu
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.20.651
关键词: High-κ dielectric 、 Zero (complex analysis) 、 Materials science 、 Gate dielectric 、 Dielectric 、 Dielectric spectroscopy 、 Dielectric function 、 Semiconductor 、 Condensed matter physics
摘要: