On the Role of a Defect Flux on the Redistribution of Silver Atoms in Silver–Nickel Multilayer Films under Ion Bombardment

摘要: Radiation-induced redistribution of silver atoms in silver–nickel multilayer films under ion bombardment is studied using a phenomenological model due to Wiedersich et al. Coupled continuity equations for atom, vacancy, and interstitial fluxes are numerically solved by treating the diffusivity coefficients as free parameters fit experimental depth profiles films, obtained combination Auger sputtering techniques. It inferred from values thus that coupling atom flux with dominant effect controlling bombardment. Moreover, several microscopic features Ag transport Ni pointed out. Die strahlungsinduzierte Umverteilung von Silberatomen unter Ionenbeschus Silber-Nickel-Mehrschichtfilmen wird mit Hilfe des phanomenologischen Modells unter-sucht. Gekoppelte Kontinuitatsgleichungen fur Silberatom-, Locher- und Zwischengitteratomflusse werden numerisch gelost. Die Diffusitatskoeffzienten sind freie Parameter, um die mittels einer Kombination aus Auger- Sputtertechniken erhaltenen experimentellen Tiefenprofile Silber zu simulieren. Werte der so gewonnenen Diffusitatskoeffizienten zeigen, das die. Kopplung Silberatomflusses dem Zwischengitteratomflus domi-nierende Effekt ist, bestimmt. Auserdem weitere mikroskopische Eigenschaften Silberatomtransports beobachtet.