Dispositivo y metodo para detectar cambios en el indice de refraccion de un medio dielectrico.

作者: Laura M. Lechuga Gomez , Ana Calle Martin , Gaspar Armelles Reig , Borja Sepulveda Martinez

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摘要: Dispositivo y metodo para detectar cambios en el indice de refraccion un medio dielectrico. El dispositivo el indice de dielectrico comprende: al menos una capa metal (300) dispuesta para situarse relacion con (200); fuente luz (20) configurada para dirigir polarizada transversal magnetica (TM) hacia dicha capa de metal, manera que la se refleje de metal; medios acoplamiento (10); detector (31) configurado para recibir reflejada por detectar, al menos, caracteristica luz. De acuerdo invencion, metal contiene material ferromagnetico. La invencion tambien refiere a metodo.

参考文章(1)
C. Hermann, V. Kosobukin, G. Lampel, J. Peretti, V. Safarov, P. Bertrand, Surface-enhanced magneto-optics in metallic multilayer films Physical Review B. ,vol. 64, pp. 235422- ,(2001) , 10.1103/PHYSREVB.64.235422