搜索历史记录选项已关闭,请开启搜索历史记录选项。
作者: Nadine Collaert , Dimitri Linten , Jonathan Borremans , Guido Groeseneken , Mirko Scholz
DOI:
关键词:
摘要:
,2010, 引用: 1
IEICE Transactions on Electronics,2009, 引用: 0
Microelectronics Reliability,2008, 引用: 37