作者: Cyril Pernot , 平野 光 , シリル ペルノ , Akira Hirano
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摘要: エピタキシャル成長用テンプレートの作製方法であって、サファイア基板の表面にGa原子を分散して供給する表面処理工程と、前記サファイア基板上にAlN層をエピタキシャル成長させるAlN成長工程を有し、前記AlN層の表面から深さ100nmまでの表面近傍領域を除く前記AlN層の内部領域における2次イオン質量分析法により得られるGa濃度の前記サファイア基板の表面に垂直な深さ方向の濃度分布における前記Ga濃度の最大値を得る前記深さ方向の位置が、前記サファイア基板の界面から前記AlN層側に400nm離間した位置までの界面近傍領域内に存在し、前記Ga濃度の最大値が、3×10 17 atoms/cm 3 以上、2×10 20 以下となる。