Sebastiano Strangio , Pierpaolo Palestri , DAVID Esseni , Luca Selmi
IEEE Journal of the Electron Devices Society 3 ( 3) 223 -232
DRIUSSI Francesco , ESSENI David
ESSENI David , PALESTRI Pierpaolo
DRIUSSI Francesco , ESSENI David
ESSENI David , PALESTRI Pierpaolo , SELMI Luca
ESSENI David , PALESTRI Pierpaolo
Springer Wien New York
ESSENI David , C FIEGNA , E SANGIORGI
Wiley--IEEE Press
David ESSENI , Pierpaolo PALESTRI , Luca SELMI , Enrico CARUSO
Ruben SPECOGNA , David ESSENI
David ESSENI
Luca SELMI , Enrico CARUSO , Patrik OSGNACH , David ESSENI
David ESSENI , Pierpaolo PALESTRI , Oves Mohamed Hussein BADAMI , Francesco DRIUSSI
Pierpaolo PALESTRI , David ESSENI , Sebastiano STRANGIO , Francesco SETTINO
David ESSENI , TOMMASO ROLLO
Enrico CARUSO , Luca SELMI , David ESSENI , Patrik OSGNACH
David ESSENI
David ESSENI , Pierpaolo PALESTRI , Luca SELMI , Sebastiano STRANGIO
Pierpaolo PALESTRI , David ESSENI
Pierpaolo PALESTRI , Sebastiano STRANGIO , David ESSENI