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作者: Weiwei Yu , Dale G. Karr , Pedro M. Vargas
DOI: 10.1115/1.4004520
关键词: Reliability (semiconductor) 、 Stress (mechanics) 、 Corrosion 、 Composite material 、 Stress concentration 、 Engineering 、 Structural engineering 、 Tension (physics)
摘要:
Journal of Structural Engineering,2016, 引用: 13