Diffuse X‐Ray Determination of the Energy of Mixing and Elastic Constants of GeSi Solid Solutions

摘要: The short-range order and elastic properties of GeSi solid solutions 28, 54, 64% Si are studied by means X-ray diffuse scattering measurements. mixing energy the system taking into account existence two f.c.c. sublattices in diamond structure is determined extrapolating long-wave Fourier transforms concentration fluctuations Cq to q = 0 points corresponding node (400) equals for W(q=o) (2.5 ± 0.2) kcal/mol. constants their positive deviations obtained from additive values which good agreement with data lattice parameter system. Es werden die Nahordnung und elastischen Eigenschaften von GeSi-Legierungen mit 54 mittels Messung der diffusen Rontgenstreuung untersucht. Die Mischungsenergie des Systems wird unter Berucksichtigung Existenz zweier k.f.z.-Untergitter Diamantstruktur durch Extrapolation langwelligen Fouriertrans-formierten Konzentrationsfluktuationen auf Punkte entsprechend dem Knotenpunkt bestimmt betragt fur (2,5 0,2) Konstanten GeSi-Legierung ihre positiven Ab-weichungen aus den zusatzlichen Werten erhalten, guter ubereinstimmung Gitterparameters sind.