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作者: M. Olcer , H. J. Bühlmann , M. Ilegems
DOI: 10.1149/1.2108631
关键词:
摘要:
,1988, 引用: 6
IEEE Transactions on Electron Devices,1989, 引用: 5
Applied Physics Letters,1988, 引用: 7
Applied Physics Letters,1993, 引用: 36
IEEE Electron Device Letters,1998, 引用: 6
Physica Status Solidi (a),1989, 引用: 2
IEEE Electron Device Letters,1994, 引用: 5
IEEE Transactions on Electron Devices,1999, 引用: 2
IEEE Transactions on Electron Devices,1990, 引用: 72
,1990, 引用: 24