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作者: Melvin A. Breuer , Arthur D. Friedman
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits,2007, 引用: 0
,2005, 引用: 6
Acta Cybernetica,2004, 引用: 0
,1990, 引用: 33
,1991, 引用: 4
international test conference,1984, 引用: 2
Journal of Electronic Testing,2003, 引用: 40
,1988, 引用: 0
,2010, 引用: 9
,1988, 引用: 1